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原位拉伸樣品桿

【產品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位拉伸樣品桿，適用于雙噴、離子減薄樣品，樣品置于拉伸基片上，手動和軟件兩種操控模式，可拉伸、可壓縮。

  • 產品型號：JST
  • 更新時間：2023-02-20
  • 訪  問  量：1251
  • 廠商性質：生產廠家
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產品詳情

    PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位拉伸樣品桿基于高精度壓電拉伸操控，最小步長小于100nm，適用雙噴或離子減薄樣品，是研究金屬材料、納米材料、薄膜材料力學行為的重要工具。

    技術指標

拉伸指標
1.拉伸位移量：0-2mm；
2.拉伸速率：0.2um--50um/s；
3.拉伸步長：優于100nm；
4.控制方式：搖桿控制或軟件控制；
5.軟件功能：拉伸/壓縮模式、拉伸條件預設。

    產品選型

    原位拉伸樣品桿

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號原位拉伸樣品桿。

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